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O 1° evento do Entec Metrologia ocorreu nos dias 12 e 13 de abril, com a realização de 12 palestras ao vivo nos seguintes temas. Se quiser ter acesso ao conteúdo (vídeo e material) mande-nos uma mensagem.

+ Análise crítica de certificados de calibração.

+ Desmistificando o critério de aceitação de instrumentos de medição.

+ Como obter alta produtividade na calibração com o uso da tecnologia.

+ Medição através de processos óticos: dificuldades e desafios.

+ Modalidades de calibração de medidores de vazão.

+ Fontes de incerteza utilizadas na grandeza dimensional.

+ Incerteza de medição pelo método de Monte Carlo.

+ Metrologia na indústria 4.0

+ Condições e práticas aplicadas em ensaios de válvulas de segurança.

+ Como elaborar pedidos de compra e sua influência no atendimento aos requisitos do cliente.

+ Metrologia aplicada a equipamentos das ciências da vida.

+ Vazão aplicada à metrologia legal em medidores de água.

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